X – Işınları Floresans Spektrum (XRF)

X – Işınları Fluoresans Spektrum (XRF)
 
Genel Tanım
X-ışınları elektro magnetik dalga spektrumun 0.1-70 Ao arasındaki dalga boylarını kapsarlar ve atomun yüksek enerjili foton veya hızlı elektronlarla uyarılması sonucu atomdan uzaklaştırılan bir elektronun iç yörüngede bıraktığı boşluğun dış yörüngedeki elektronlarca doldurulmasından arta kalan enerjiden oluşurlar. Uyarılan atomun yaydığı X-ışınının enerjisi elemente özgüdür, şiddeti elementin çokluğu ile orantılıdır. X-ışınlarının bu özelliklerinden yararlanılarak elementlerin nitel ve nicel analizleri yapılabilmektedir.

X-ışınlarının 1895' de Röntgen tarafından bulunmuş olmasına karşın 0 analitik amaçla kullanılmasına ancak Moseleyin çalışmalarıyla başlanmıştır. Önceleri, analiz edilecek numunenin X ışını tüpünde antikatot olarak yerleştirilmesi gereği analiz güç olduğundan pek uygulanmıyordu. Ancak teknolojik gelişmeler öteki birçokları yanında bu güçlüğü de yendi.

Bugün vazgeçilmez bir analiz yöntemi olarak benimsenen X-Işınları Fluoresans Spektroskopisinde, numuneler bir X-ışını tüpünden oluşturulan birincil X-ışınlarıyla uyarılmaktadır ki bu analizde büyük kolaylık ve çabukluk sağlamıştır.

X-ışınları yayınım (emisyon) spektroskopisi genel bir kavramdır ve atomun uyarılmasıyla yayılan özgün X-ışınları yardımıyla yapılan tüm analizleri kapsar. X-Işınları Fluoresans Spektroskopisi bunun özel kesimi olup, yalnızca birincil X-Işınları ile uyarılan atomların yaydıkları ikincil X-Işınları (fluoresans) yardımıyla yapılan analizleri içerir. Son çeyrek yüzyılda elektronik sanayideki gelişmeler X-Işınları fluoresans spektrokopisini nicel elementer analizin artık vazgeçilmez bir yöntemi durumuna getirmiştir.

Kuram ve Aygıt
Bohr atom modeline göre, bir atom artı yüklü bir çekirdekle, bunun çevresinde belirli yörüngeler içten dışa doğru K, L, M, N… harfleri ile simgelenirler. Eğer atoma yeterli enerji verilirse, iç yörüngedeki bir elektron atomdan uzaklaşabilir. Bunun sonucu iç yörüngede oluşan boşluk, dış yörüngelerdeki elektronlarca doldurulur. Elektronların yörüngeler arasındaki geçişleri sırasında serbest kalan enerji X-Işınları şeklinde yayılır. Yayılan X-ışınının enerjisi yörüngelerin enerji düzeyleri arasındaki farka eşittir. Uyarılan bir atomun normal durumuna dönüşü, yani iç yörüngede olan boşluğun doldurulması adım adım olur. Her adımda, elektronun yüksek enerjili bir düzeyden düşük enerjili bir düzeye geçişi ile arta kalan enerji özgün X-Işını şeklinde yayılır. Böylece bir elementin uyarılmasıyla çok sayıda özgün X-Işını oluşur. Her element uyarıldığında, belirli sayıda kendine özgü yayınım çizgisi içeren bir X-ışınları spektrumu verir.

1914' de geliştirilen Mosoley kuramına göre; bir element tarafından yayılan X-ışınının dalga boyu elemente özgüdür ve bununla element tanımlanabilir. Moseley ayrıca spektrumdaki elemente özgü çizgilerin şiddetlerinin uyarılan element çokluğu ile orantılı olduğunu göstermiştir. Bu ilkelere göre X-Işınlarının analitik amaçla kullanılmasında benimsenen yol şöyledir. Numune uygun bir şekilde uyarılarak içindeki elementlerin özgün yayınım çizgilerini içeren bir X-ışınları spektrumu elde edilir. Spektrumda elementlere ait özgün çizgiler tanımlanarak numunenin nitel analizi yapılabilir. Belirli özgün çizgilerin şiddetleri ile ait oldukları elementin derişimleri arasında, bilinen derişimdeki örneklerden yararlanılarak elde edilmiş ilişki kullanılarak numunenin nicel analizi yapılır. Bu amaçla kullanılan bir spektrometre şu kısımlardan oluşur.

· Numune
· Sayaç
· Spekturm
· X-ışını Tüpü
· 2Q
· Kristal
· Ganyometre



Uyarma, Dalga Boylarına Ayırma, Kayıt
a) Uyarım kaynağı: X-ışınları fluoresans spektrometrelerinde uyarım kaynağı olarak X-ışınları kullanılır. Bir coolidge X-ışını tüpünden elde edilen birincil X-ışınları numune üzerine gönderilerek atomlar uyarılır. Böylece oluşan ikincil ışınları ölçerek analizde kullanılır. Birincil X-ışınları tüpte anot olarak yerleştirilmiş hedef elementin hızlandırılmış elektronlarla dövülmesiyle oluşur. Hızlı elektronlarla hedef üzerine düşürülen enerjinin ancak % 1 – 2 kadarı X-ışınları oluşturur, geri kalanı ise ısıya dönüşür. Bu nedenle X-ışını tüpünde hedef element, hava veya su ile sürekli soğutulur. Kullanılan başlıca hedef elementler Cr, Rh, W, Ti, Ag, Au, Pt, Cu gibi soy metallerdir.

Bir X-ışını tüpünde hızlı elektronlarla dövülen hedef element kendine özgü X-ışınları yanında sürekli bir spektrumda yayar.

Sürekli spektrumun şiddeti ise ZV 2 ile orantılıdır. Z, hedef elementin atom numarasıdır. Birincil X-ışınlarının uyarım gücü sürekli spektrum şiddeti ile artar. Bu nedenle birincil X-ışınlarını yayan tüp hedef elementinin ağır metal olması ve tüp gerilimin yüksek tutulması gereği düşünülürse de, hedef elementi ve tüp gerilimi seçiminde göz önünde bulundurulması gereken başka elementlerde vardır. Bir çok spektrometrede hedef elementi değiştirmek, ancak X-ışını tüpünü tümden söküp çıkararak, yerine arzulanan hedef elementi tüpü takmakla olanaklıdır. Bu güçlüğü gidermek amacı ile çift hedefli tüpler (Dual target tubes ) geliştirilmiştir. Genellikle Cr-W veya Rh-W gibi biri hafif diğeri ağır iki elementten oluşan bu tüplerde analizin amacına göre demir için Wolfram, sodyum ve magnezyum için radyum hedefi otomatik olarak seçilir.

b) Dalga boylarına ayırma düzeneği : Bu düzenek bir gonyometre merkezine yerleştirilmiş kristal üzerine gelen X – ışınları kolimatörlerde demet haline getirilir. Kristal üzerine gelen X-ışınları Bragg yasasına uyarak dalga boylarına farklı, fakat belirli açılarda yansırlar. Gonyometreyi döndürerek, belirli yansıma açısı ayarlanınca istenilen dalga boyundaki X-ışını ölçüm sistemine düşürülür. X-ışınlarını dalga boylarına ayırmak için kullanılan başlıca kristaller: topaz, LiF, NaCl, fluorit, Kuvarz, EDDT (etilen daimin ditartarat ), ADP (amonyum dihidrofosfat), muskovittir. Bu kristaller için tüm elementlerin özgün X-ışınlarının dalga boylarına karşın gelen 2Q yansıma açıları çizelgeler şeklinde literatürde vardır. Çizelgeden analiz edilecek elementin seçilen özgün X-ışını dalga boyuna uygun kristalde karşı gelen 2Q açısı bulunur. Gonyometre bu açıya ayarlanınca elementin seçilen özgün X-ışını detektöre düşürülür.

c) Ölçüm sistemi : Detektör, yükseltici diskriminatör sayıcı ve/veya yazıcı birimlerden oluşur. Detektör, üzerine düşen ışınları ölçülebilir pulsa çevirir. X-ışınları spektrometrelerinde şu üç detektör kullanılır: orantı (proportio-nal), gaz akışlı (gas flow) ve ışıldamalı (scintillation) detektörler. En çok rastlanan son ikisidir. Diskriminatör, detektörden gelen pulsları süzer ve belirli yükseklikteki pulsların geçmesine izin verir. Diskriminatörden gelen pulslar ya bir sayıcı birimde belirli süreler içinde sayılır yada yazıcı birimde kaydedilir. İstenildiğinde puls sayıları (şiddet ) dalga boyu veya yansıma açısına karşı grafiğe geçirilerek spektrum elde edilir.

Özellikle hafif elementlerin özgün X-ışınları havanın oksijeni tarafından soğutulduğu için, spektrometreler genellikle vakumla çalışabilecek şekilde yapılmışlardır.

Uygulama
X-ışınları fluoresans spektrokopisinde genellikle katı numunelerle çalışılır. Ancak çözeltilerin analizi de uygun düzenekler kullanılarak yapılabilir. Katı numuneler ya çelik analizinde olduğu gibi bir yüzeyi düzeltilerek numune doğrudan ışınlanır veya önce toz edilen baskı ile tablet yapılıp ışınlanır.

Numune hazırlanmasında dikkat edilecek en büyük nokta homojenliğin sağlanmasıdır. Eğer numune çok ince toz halinde ise veya 200 meşin altındaki tane büyüklüğüne kadar ufalanabiliyorsa, toz numune gerekli maddeler de eklenip karıştırıldıktan sonra selüloz veya borik asit gibi bir taşıyıcı üzerine basılarak tablet haline getirilir. Eğer numunenin homojenliği bu yolla sağlanamıyorsa, numune önce eritiş veya çözme işlemine sokulur. 1 gr numune 10 gr matrix ile karıştırılıp 1100 °C de 10-15 dk Pt-Au krozede eritiş yapılır. Eritiş yönteminde öğütülmüş numuneye uygun bir madde (Li2B4O2, Li2CO3 gibi) eklenerek yüksek sıcaklıkta Pt-Au potalarda eritilen numune kaplılara dökülerek soğumaya bırakılır. Uçucu elementler içeren numunelerde olduğu gibi eritiş yöntemi uygulanamıyorsa, 2.5 gr numune + 0.75 gr selüloz ile bilyeli değirmende 30 dk öğütülür. Karışım 40 ton basınçla tablet yapılarak analizi yapılır.

Uygun yöntemle hazırlanan numuneler düzenekteki numune hücrelerine konarak ışınlanır. Eğer numunenin nitel analizi yapılacaksa, numunenin X-ışınları spektrumu alınır. Bu spektrumda görülen özgün çizgilerin 2Q açıları saptanarak, kullanılan kristaldeki 2Q açısı dalga boyu çizelgesinden hangi elementlerin X-ışınları çizelgesine ait oldukları bulunur.

Nicel analizlerde numunenin X-ışınları spektrumunu almaya gerek yoktur. Numunede miktarı saptanacak elemente ait özgün X-ışınının dalga boyuna seçilen kristalde karşı gelen 2Q açısı çizelgelerden bulunarak gonyometrede ayarlanır. Işınlanan numunenin bu açıda verdiği pikin şiddeti, bilinen örneklerinki ile karşılaştırılarak elementin numunedeki miktarı saptanır. Bunun için önce bilinen örnekler ışınlanarak, verdiği piklerin şiddetleri derişimlerine karşı grafiğe çizilip çalışma eğrisi elde edilir. Bu çalışma eğrisi numunenin ayarlanan 2Q açısında verdiği pikin şiddetine karşı gelen element miktarı belirlenir.

X-Işınları fluoresans spektroskopisinde matris etkisi denilen çok önemli bir sorunla karşılaşılır. Bir numunede analiz edilen element dışında kalan kısım matris olarak adlandırılır. Numune matrisindeki elementler ölçülen elementin özgün X-ışını şiddetine artırıcı ve azaltıcı yönde etki (Enhancement and absorption effect) yaparlar. Numune matrisinden ileri gelen bu etki, çalışma eğrisinde sapmalara, dolayısıyla analiz sonuçlarında yanılgılara sebep olur. Matris etkisinden ileri gelen yanılgıları en az düzeye indirmek için şu yöntemler kullanılmaktadır:

a) Numune ile aynı matrisli standartlar kullanmak: Eğer numunenin bileşimi kabaca biliniyorsa, analiz için numune ile benzer yapıda standartlar seçilir. Böylece numune ile standartlar hemen hemen aynı matrisli olacağından matris etkisinden fazla bir yanılgı gelmez. Bazı alanlarda bu yöntem kolaylıkla uygulanabilir. Örneğin granit numuneleri için yine aynı yapılı uluslar arası standartlar bulunmaktadır. Özellikle sanayide kalite ve hammadde kontrol amacıyla yapılan analizlerde, bu yöntem çok kullanılır. Ancak değişik numunelerin analizine yönelik laboratuarlarda her numune için benzer matrisli standartlar bulmak her zaman olası değildir.

b) Ekleme yöntemi (addition method): Eğer bir numune için benzer matrisli standartlar bulunamıyorsa, numunenin eş miktarları üzerine analiz edilecek elementin belirli miktarı eklenerek, bağıl derişimleri bilinen standartlar elde edilir. Numunenin analiz edilecek element içeriği X, eklenen miktarların bu element derişimine katkıları a1, a2, a3… ve ölçüm sonucu elemente özgü X-ışını dalga boyunda belirli bir süre için sapmasıyla şiddet sayımları için S eklemeyle elde edilen standartlar için sırasıyla S1, S2, S3 ise şu bağıntı vardır:

S0 / x = S1 / (x + a1) = S2 / (x + a2) = S3 / (x + a3)

Bu orantılar yardımıyla, numunenin bilinmeyen element içeriği ölçümler sonucu bulunabilir

Elde edilen doğrunun göreceli derişim ekseni kestiği yer başlangıç noktasıdır ve x noktasına uzaklığı da elementin numunedeki derişimini verir. Oldukça doğru sonuçlar alınmasına olanak sağlayan bu yöntem uzun zaman gerektirmesi nedeniyle çok sayıda gelen numunelere uygulanmaz. Ancak seyrek rastlanan değişik yapılı numuneler için, özellikle hazır standartlar bulunuyorsa çok uygun bir yöntemdir.

c) İç standart yöntemi: Matris etkisinden ileri gelen yanılgıları en az düzeye indirebilmek için uygulanan en etkin yöntem bu yöntemde numune ve standartlara, ölçülecek elementin özgün X-ışınına yakın dalga boyunda özgün X-ışını veren bir element eş miktarlarda eklenir. İç standart olarak eklenen bu elementin, matristen ölçülecek elementle aynı derecede etkilendiği varsayılır. Analizde, elementin ve iç standardın özgün X-ışınları pik şiddetleri, aynı koşullarda ölçülerek elde edilen sayımları alınınca, matristen ileri gelen etki büyük ölçüde giderilir. Çalışma eğrileri çizilirken derişimlere karşı elementin özgün X-ışını dalga boyunda ölçülen pik şiddeti yerine bunun iç standart elementininkine oranı taşınır.

d) Soğurucu ağır metallerin eklenmesi ve seyreltme: Matris etkisini azaltmanın en kolay yollarından biri, atom numarası büyük elementlerin X-ışınları soğurucu özelliklerinden yararlanmaktır. Eğer numune ve standartlara fazla miktarda ağır element eklenirse, matris farklılığından gelen soğurmanın etkisi, bu ağır metalin soğurması yanında önemini yitirir. Soğurma gücünü fazla ve yeterince saf olması nedeniyle La2O3 bu amaç için çok uygundur. Yine soğuruculuğu çok az olan hafif elementlerle yapılan aşırı seyreltmeler de matris farklılığından ileri gelen yanılgıları önemli ölçüde azaltmaktadır. Li2B4O7, Li2CO3 en uygun seyreltme araçlarıdır. Numunelere soğurucu ağır metalleri eklenmesi ve seyreltme ancak eritiş yöntemiyle uygulanabilmektedir. Matris etkisini azaltmak için kullanılan bu yöntem oldukça kolay uygulanabilir ve zaman kazandırıcı olmasına karşın, duyarlığın azalmasına neden olur.

Uygulama Olanakları ve Alanları
X-ışınları fluoresans spektroskopisi B-U' deki elementlerin hızlı ve doğru olarak nitel ve nicel analizlerinin yapılmasına olanak sağlar. Yöntemin duyarlılığı oldukça yüksektir. Genellikle ppm derecesinde olan duyarlılık, küçük atom numaralı elementlerde biraz daha düşüktür. X-ışınları fluoresans analizinden alınan sonuçların yinelenebilirlikleri çok iyidir. Kullanılan işlemler oldukça yakındır ve sonuca çabuk ulaşılır. Elde edilen sonuçlardaki yanılgılar elemente, numunenin yapısına ve numune hazırlama yöntemine göre değişir. İyi çalışıldığında % 1 kadar bağıl hata elverişsiz koşullarda % 3 – 4 değerine ulaşır. Aygıtsal yanılgının payı oldukça düşüktür. Asıl payı numune hazırlanmasından ileri gelen yanılgılar alır. Bu nedenle numune hazırlanmasına büyük özen gösterilmesi gerekir. Numune hazırlama ve analiz yönteminin seçimi de yanılgılar yönünden büyük önem taşır.

Bu yazıda anlatılan dalga boyu ayrımlı X-ışınları fluoresans spektroskopisi daha çok nicel analizlerde yararlıdır. Yeni gelişen enerji dağılımlı spektrometrelerde nitel analizler de kolaylıkla yapılabilmektedir. X-ışınları fluoresans spektroskopisi özellikle çok sayıda benzer numunelerin analizi gerektiğinde çok yararlı olmaktadır. Verimli olduğu uygulama alanları şöyle sıralanabilir.

Jeoloji: Maden aramalarında ve jeolojik çalışmalarda alınan çok sayıda benzer numunelerin seri ve güvenilir analizleri.
Mineroloji: Mineral incelemelerinde iz elementlerin incelenmesi.
Madencilik: Maden işletme ve zenginleştirme tesislerinde cevher ve ürünlerin seri analizleri.

Numune Hazırlama
X-ışınları fluoresans spektroskopisinde genellikle katı numunelerle çalışılır. Ancak çözeltilerin analizi de uygun düzenekler kullanılarak yapılabilir. Katı numuneler ya çelik analizinde olduğu gibi bir yüzeyi düzeltilerek numune doğrudan veya önce öğütülen numune baskı ile tablet yapılıp ışınlanır. Numune hazırlanmasında dikkat edilecek en büyük nokta homojenliğin sağlanmasıdır. Eğer numune çok ince toz halinde veya 200 mesh tane büyüklüğüne kadar öğütülmüşse: numuneler 105 oC' de etüvde 2:30-3:00 saat kurutulur. Desikatörde soğutulduktan sonra amaca uygun olarak aşağıdaki yöntemlerden biri uygulanır.

· Eritiş Yöntemi
· Toz Numune Hazırlama

Eritiş Yöntemi
Eritiş yönteminde numune ile uygun bir eritiş maddesi (Li2B4O7, Li2CO3 gibi) Pt-Au krozelerde yüksek sıcaklıkta (110 oC) 15 veya 20 dk eritişe tabi tutulur. Elde edilen karışım potalara dökülerek soğuması beklenir. Potalardan alınan cam tabletler analiz edilir.

Toz Numune Hazırlama
Toz numune hazırlamada numune ile bağlayıcı bir madde (selüloz veya borik asit) belirli bir oranda tartılır. Hazırlanan karışım bilyeli değirmende 30 dk öğütülür. Elde edilen karışım, 40 ton basınçla preslenerek tablet haline getirilir ve analiz yapılır.

Eritiş yöntemi daha duyarlıdır. Fakat cevher numuneler, S, As, Sb, Pb gibi platin kroze ile alaşım yapan element içeren numunelere eritiş yapılamamaktadır.

XRF Spektrometre İle Analiz
Jeolojik, mineralojik, metalurjik, biyokimyasal ve endüstriyel numunelerin hızlı ve seri elementer analizlerinde bugün kullanılan güvenilir yöntemlerden biri de X-ışınları fluoresans spektroskopisidir. X-ışınları spektrumu ile elementer analiz, spektrumda belirli bir elemente ait pik şiddetinin o elementin ışınlanan numunedeki miktarı ile orantılı olması gerçeğine dayanır.

Laboratuarımızda bulunan dalga boyu ayrımlı X-ışınları fluoresans spektrometresi ile periyodik çizelgede B-U kadar elementlerin analizleri hassas bir şekilde tayin edilebilmektedir. Gelen numuneler yapılarına ve içerdikleri elementlere göre değişik yöntemlerle hazırlanıp, spektrometrede her element için farklı olan ölçüm koşulları sağlanarak okumaları yapılır. Derişimleri bilinen standartlardan hazırlanmış çalışma eğrisinden elementlerin numunedeki konsantrasyonları yüzde veya ppm olarak saptanır.

Maden aramalarında analize gönderilen numuneler çok farklı yapıda oldukları gibi element içerikleri de geniş bir derişim aralığında değişmektedir. Bunun analizde neden olduğu güçlüklerden biri, numunelerin hazırlanmasında farklı yöntemlerin uygulanması gereğidir. Örneğin demir cevheri ile silikat numunelerinde demir analizi, farklı yapıda olduklarından iki numune değişik yöntemlerle hazırlanmaktadır. Spektrum, numune matrisinden etkilendiğinden analiz ancak numuneninkine benzer matrisli standartlardan hazırlanmış çalışma eğrisiyle yapılabilir. Servisimizde kalker, boksit, kuvars, florit, dolomit, magnesite, manganese, Phosphate, silikat gibi uluslar arası sertifikalı yüzlerce standartlar kullanılarak çalışma eğrileri hazırlanmakta bu eğriler yardımıyla bilgisayar ortamında değerlendirilerek sonuçlar verilmektedir.

İçeriği bilinmeyen numuneler için veya acil durumlarda yarı kantitatif analizlerde yapılmaktadır.

UV-Visible Spektroskopisi

UV-Visible Spektroskopisi
 
Giriş
Renkler artistten bilim adamına hatta öğrencilere kadar herkes için önemlidir. Öyleyse renk nedir? Renk, gözlerimizin tanıyabildiği ve görebildiği veya daha doğru bir deyimle renkli bir obje tarafından yansıtılan veya kırılan bir ışının dalgaboylarıdır. Giydiğiniz T-shirtün rengi kırmızı görünüyorsa bu görünür bölgede kırmızı rengin haricindeki tüm dalgaboylarını absorpluyor demektir.

Bu soğurma olayı nasıl meydana gelmektedir?
Renk yüzlerce senedir bilim adamları için hep önemli olmuştur. Çünkü kantitatif (nicel) analiz için en eski yöntemlerden birinin temelini oluşturmuştur: Renkli dönüm noktasıyla titrasyon gibi. Burada ortamdaki moleküllerde meydana gelen değişim veya yapılarındaki değişim farklı absorpsiyon karakteristikleri sunar ve dolayısıyla renk değişimi oluşur. Titrasyon yönteminden önce de renkler kalitatif (nitel) olarak kullanılmaktaydı ve hala kullanılmaktadır.

Hangi Dalga boyları UV-Vis bölgesini oluşturur?
UV-visible bölgesi elektromanyetik spektrumun çok küçük bir bölümünü teşkil eder ve genellikle 195 nm’ deki yüksek enerji UV’ den başlar ve kırmızı bölgede yani 750 nm’ de son bulur. Spektrumun diğer bölgeleri farklı geçiş türlBant şiddetlerinin arttırılmasında en önemli yapısal özelliklerden birisi konjugasyondur (tekli ve çiftli bağ peşisıra). Bu etki pi-pi* geçişinin enrjisini düşürmekte (batohromik kayma) ve şiddeti arttırmaktadır (hiperkroizm).

d- & f- Elektronlarının yer aldığı Soğurma: Dolmamış d-orbitallerinden dolayı birçok geçiş metal iyonu çözeltileri renklidir. Bu durum elektronun bağıl olarak düşük enerjili görünür ışık enerjisini soğurması ve uyarılmış düzeye yükselmesiyle sonuçlanır. d-orbitallerinin şekilleri ve oryantasyonlarından dolayı bantlar geniştir ve kimyasal çevreden fazlaca etkilenir. Analizin duyarlılığı metal iyonunun bazı uygun organik kelat ajanları ile kompleks yapması sonucu yük-aktarım kompleksleri ‘nin oluşmasını sağlayabilir. Bu tür komplekslerin molar soğurum değerleri çok yüksektir ve tipik olarak 10000 l/mol/cm ‘ nin üzerindedir. Seçici olarak birden fazla metal iyonu ile kompleks yapacak veya yapmayacak sayısız kompleks yapıcı kelatlar mevcuttur. Örnek olarak, Fe(II) analizi için 1,10-fenantrolin en çok kullanılan kelattır.

Lantanit ve aktinitlerin dolmamış f-orbitalleri vardır ve geçiş metallerine benzer soğurma bantları verirler. Geçiş metal iyonları spektrumunun tersine, lantanit ve aktinitler dar, çok iyi tanımlanmış bantlar içerir. Bu bantlar ise ligandlar ve kimyasal ortamdan çok az etkilenirler.

İki Bileşenli Karışımların Analizi: Eğer karışım iki tür içeriyorsa absorpsiyon bandının genişleme ihtimali oldukça yüksektir. İlgili dalgaboyunda absorpsiyon tek bileşenli karışımlara göre tam sonuç vermeyecektir. Doğru ve duyarlı bir kantitatif analiz için örtüşmenin düzeltilmesi gerekir.

Çalışılan bir dalgaboyunda (bileşenlerden birinin maksimum absorbans gösterdiği dalgaboyu) ölçülen absorbansı pozitif bir katkı sağlar. Örneğin; A = A(1) + A(2), burada A(1), 1 nolu türden gelen absorbansı gösterir.

Lambert-Beer yasası uygulandığında ise ;

A = e(1)c(1)l + e(2)c(2)l,

burada A ölçülen & e(1) & e(2) ise kalibrasyon grafiklerinden elde edilen değerlerdir. İki tane bilinmeyen (derişimler) olduğundan böyle bir denklem çözülemeyebilir. Fakat diğer bileşenin maksimum değer gösterdiği dalgaboyunda ölçüm yapılırsa ikinci bir denklem elde edilir:
A' = e'(1)c(1)l + e'(2)c(2)l

Sonuç olarak iki bilinmeyen derişimini hesaplayabilmek için iki çift denklem elde edilir. Eğer her iki bileşenin her iki dalgaboyundaki molar soğurum katsayıları da bilinirse bileşenlerin bilinmeyen derişimleri hesaplanabilir.

Bu teknik üç bileşenli sistemler için de uygulanabilir. Örneğin üç dalgaboyunda ölçüm yapılması gibi. Fakat bu işlemin güvenirliği zamanla azalır. Bu tür çok bileşenli analizlerin spektrumunu analiz için hazır paket programlar kullanılabilir.

Çift Işınlı Spektrofotometreler
Bu tür cihazlar tek ışınlı cihazlardan kaynaklanan problemleri elimine etmek için geliştirildi. Bundan dolayı diğerine göre biraz daha karmaşık ve pahalı cihazlardır. Bu tür cihazlar genellikle kolayca taşınabilir yapıda değildirler fakat spektrum taraması veya tek dalga boyunda ölçüm yapabilirler.

Kaynaktan gelen ışın dönen ayna veya diğer bir deyişle Chopper ile ikiye bölünür. Bu ışınlardan biri numuneden diğeri ise referans hücreden geçer. Dedektör dönüşümlü olarak bir numuneden bir referanstan gelen ışınları görür ve I 'nın Io'a oranını verir. Böylelikle referans düzeltmesi otomatik olarak yapılımış olur.

Bazı Tanımlar:
Absorbans (Soğurma):- Numunenin soğurabildiği ışık miktarının bir ölçüsüdür. Numuneye gelen ışın şiddeti Io ve numuneden çıkan ise I, absorbans A = -log(I/Io) = log(Io/I) şeklinde verilir. Bu şekilde ölçüm modern enstrümental cihazlarda takip edilen yoldur.

Renk/Alev Testleri:- Birçok organik ve inorganik türlerin varlığı sadece renklerine bakılarak anlaşılabilir. Örneğin, susuz Cu sülfat soluk mavi renktedir ve suya atıldığında koyu mavi renge dönüşür. Litmus kağıdının rengi asitliği yani pH’ ı gösterir. Gümüş halojenür çökelekleri farklı renklerdedir ve birçok metaller alev rengine bakılarak tayin edilebilir.

Sürekli ışın kaynağı:- Tüm dalgaboylarını içeren ışın. Örneğin güneşten gelen ve tüm dalgaboylarını içeren spektrum.

Elektron geçişleri:- eğer molekül yeterince kuvvetli bir ışını soğurursa bu elektronların orbitallerinin değişmesine neden olur. Soğurulan enerji miktarı elektron geçişi için gerekli olan enerjiye eşit olmalıdır.

Geçirgenlik:- Numuneden geçen ışık miktarının bir ölçüsüdür ve T ile gösterilir. T =(I/Io)x100. Bu değer modern cihazlarda çok sık kullanılmaz. Çünkü konsantrasyonla bağıntısı lineer değildir.

Tarayıcı/Kaydedici Cihaz: Bazı cihazlar sınırları belli dalga boyunda soğurum spektrumunu kaydederken bazıları da tek bir dalga boyu için ölçüm yapabilir.

Spektroskopinin çalışma alanları şöyle sıralanabilir:

Atomlar veya moleküller tarafından absorplanan, verilen veya önü kesilen radyasyonun ve ilgili kimyasal türlerin enerji düzeylerindeki değişmelerin gözlenmesi.

Elektromanyetik radyasyonun yorumlanması: spesifik dalgaboylarında kesikli çizgi veya bantlar.

Atomlar hem çizgi hem de bant spektrumu oluştururken moleküller sadece bant spektrumu oluşturur.

Spektral çizgiler özel analit türlerinin belirlenmesini veya derişimin nicel olarak ölçümünü sağlar.

farklı spektroskopilerle ilgilidir. Örneğin IR spektroskopisi elektron geçişini sağlayabilmek için yeterince enrjetik değildir.

Işının Soğurulması
Tüm ışımalar parçalı yani kuantlaşmış haldedir. Bunun anlamı ise şudur; ışımalar parça parça enerjiler olarak bulunur (kuanta, ışık durumunda fotonlar dır). Bu sonuç enerjinin tanımlanmasını gerektirmektedir. Dolayısıyla burada elektronların enerji düzeyleri ile ilgili olarak elektronlarda sayılabilir. Elektronlar kendi enerji düzeylerini enerji kaybederek veya kazanarak değiştirebilirler. Fakat sadece iki düzey arasındaki farkla bu işlem gerçekleşebilir.

Temel enerji düzeyinden yani E1’ den E2’ ye elektronlar ancak moleküller fotonları soğurursa ve fotonların enerjisi de = (E2 – E1) ise olur. Yüksek enerjideki bu elektron uyarılmış olur ve bu düzeye de uyaılmış düzey denir. Uyarılmış düzeyde elektron ların kalma süreleri çok kısadır. Örneğin 1-10 nanosaniye arasındadır. Çünkü yüksek enerji düzeyi enerji yönünden kararsızdır ve ekstra enerji ışık veya ısı emisyonu gibi rahatlama işlemleriyle kaybedilir

 

UV-Visible Spektrofotometre Cihazı

UV-Visible Spektrofotometre Cihazı
 
Tipik bir UV Cihazı Hangi Kısımlardan Oluşur?
Cihazın ilk olarak ilgili dalga boyunda UV-Visible ışın vermesi ve bu ışının numuneden geçtikten sonra ne kadarının soğurulduğunun ölçülmesi gerekir. Aşağıdaki şekil cihazın temel kısımlarını basit olarak göstermektedir.

1. Işın Kaynağı: İlk ışın kaynağı olarak tungsten fitilli lambalar (aydınlatma ampulleri!) kullanıldı. Fakat bu lambaların yerini zamanla tungsten-halojen lambalar aldı. Bu gibi ışın kaynakları 320 nm' ye kadar olan dalgaboylarında ışıma yapabilirler. 400 nm' nin altında ise sürekli spektrum verebilen Döteryum lambası gibi lambalar kullanılır.

2. Monokromatör: Monokromatör ("tek renk"), bir soğurum ölçümünün yapılabilmesi için dalga boyunun seçilmesinde kullanılır. Gerçekte bir tek dalga boyunu pratik olarak elde etmek mümkün değildir fakat bunun yerine dalga boylarının dar bir aralığı seçilir ki buna bant genişliği adı verilir. İki temel monokromatör tipi vardır. Bunlar prizma ve optik ağlardır. Günümüz modern cihazlarında en çok kullanılan monokromatör türü ise Yatsıtmalı optik ağlardır.

Gelen ışın prizmaya girer ve farklı dalga boylarında ışınlara ayrılmış olarak çıkar. Mavi ışık en az yansıtılırken kırmızı ışık en çok yansıtılandır (Bundan dolayı gökyüzü mavi görünür. Çünkü kırmızı ışık yansıtılmaz). Prizma veya yatsıtmalı optik ağ yavaşça döndürülürse ışığın değişik dalgaboyları elde edilir ve bu ışık çıkış yarığından çıkarak doğruca numune üzerine gönderilir. Monokromatör döndürüldükçe spektrum elde edilir ve dedektörden geçen ışının şiddeti ölçülür. Yansıtmalı optik ağların prizmalara göre birincil avantajı daha küçük bant genişliğine sahip olmalarıdır.Dezavantajı ise bir kat daha fazla kırınım yapmasıdır (Bragg Kırınımı). Bunun anlamı şudur: Eğer monokromatör mesela 600 nm' ye ayarlanmışsa ikinci dereceden 300 nm' deki ışın da geçecektir. Bu problem filtre kullanımı ile kolayca giderilebilir ve istenmeyen ışınlar kolayca sistemden uzaklaştırılabilir.

3. Numune: Numuneler her zaman sıvıdır ve bundan dolayı hücre veya küvet olarak bilinen uygun araçlar kullanılır. Soğurum olayının küvetin ışık yolu uzunluğuna bağlı olmasından dolayı numune hücresinin yüksek doğrulukta ve paralel yüzeylere sahip olması gerekir. Bu numune hücresinin boyu genellikle 1 cm' dir.

Hücrenin iki karşı yüzeyi de nereden tutulması gerektiğini göstermesi amacıyla mat olarak üretilmiştir. Aksi takdirde şeffaf yüzeylerin ellerden gelen yağ ve kirle kirlenmesi kaçınılmazdır.

Eğer referans kullanılacaksa iki adet küvet kullanılmalıdır. Bunlardan birine referans diğerine ise numune konulmalıdır.

4. Dedektör: Işın enerjisini elektriksel sinyale dönüştüren cihazlara dedektör adı verilir. Dedektörlerin en önemli özelliklerinden birisi üzerine düşen ışın şiddetiyle elektriksel çıkışın doğrudan orantılı olmasıdır. Buna ilaveten iyi bir dedektör üzerine düşen çok az sayıda foton içeren ışın demetini elektriksel sinyale dönüştürebilmelidir. Birçok dedektör dizaynı kullanılmasına rağmen bunlardan en çok kabul gören ve en yaygın olanı fotoçoğaltıcı tüp 'tür. Bunun nedeni ise bu dedektörün çok duyarlı olması ve geniş dalga boyu aralığında kullanıma imkan vermesidir. En büyük dezavantajı ise şiddetli ışına maruz kaldığında hemen bozulmasıdır. Bu tür cihazlar sodyum, potasyum gibi kolay iyonlaşabilen elementlerden imal edilmiş katot ve anottan yapılmıştır. Katota gönderilen ışın elektronları koparır ve bu kopan elektronlar anot tarafından çekilir.

1970'li yıllardan beri ticari olarak kullanılan bir diğer dedektör tipi ise fotodiyot array 'dir. Bu tür yarı-iletkenli dedektörler önceleri çok pahalıydı fakat sonraları fiyatlar düştü ve birçok modern cihazlarda bu dedektörler kullanılmaya başlandı. Bu dedektörler 2cmX25 mikron boyutunda ince bir bant üzerinde binlerce fotodiyodun yanyana gelmesiyle elde edilir. İlk önce herbir diyot yüklenir ve elektronik bağlantılar yardımıyla yüklenme seviyesi izlenir. Bu diyotlar eğer ışığa maruz kalırsa ışın şiddetiyle orantılı olarak yüklerini boşaltırlar.

Bu tür dedektörlerin cihaz altyapıları biraz farklıdır. Çünkü kaynaktan gelen ışın doğruca numuneden (monokromatörden değil) sonra sabit yansıtmalı optik ağa geçer. Bu tür dedektörlerin en büyük avantajı birden fazla dalga boyunda eş zamanlı olarak aynı anda ölçüm yapabilmesidir.

5. Veri Kaydetme: Önceleri imal edilen cihazların dedektörleri doğrudan kağıtlı grafiksel kaydedicilere bağlıydı ve bu şekilde veriler alınabiliyordu. Daha sonraları integratörler piyasaya çıktı. Fakat günümüzde çok modern cihazlar artık verileri dijital olarak kaydediyor ve bilgisayarlar yardımıyla işleyebiliyor. Bilgisayarlar işlenecek verilerin çok olması sonucu oldukça önemli yer tutmaktadır. Özellikle fotodiyot array ile yapılan çok sayıda tarama sonucu elde edilen verilerin işlenmesinde bilgisayarlardan sıkça yararlanılmaktadır.

 


Tek Işınlı SpektrofotometrelerElektromanyetik Spektrum
Elektromanyetik spektrum, en uzun dalgaboylarından (ör.
1000 km' den daha uzun) 10 -9 nm' ye kadar (kozmik ışınlar) olan bölgeye verilen addır.

UV-Vis ışını bağ elektronlarının uyarılabilmesi için yeterli enerjiye sahiptir ve yapıyla bir bağıntı söz konusudur. Farklı bağlardaki elektronlar uyarılmış düzeye çıkabilmek için farklı miktarlarda enerjiye gereksinim duyarlar. Burada organik-inorganik anyonlarla d- & f-elektronları (geçiş metalleri, lantanitler ve aktinitler) ve yük-aktarım elektronları üzerindeki geçişler irdelenecektir. Absorpsiyon bantlarının yeri (dalgaboyu/enerji) ile yapı arasında bir bağıntı olmasına rağmen bu bantlar IR spektroskopisindeki gibi kalitatif analizde bantların çok geniş olmasından dolayı kullanılamazlar. Bundan dolayı UV-Vis spektroskopide hangi türlerin kantitatif olarak analiz edilip edilemeyeceğine dair yararlı olabilecek yapılar tartışılacaktır.

Tüm organik türler UV-Vis radyasyonu absorplayabilir. Herşeyden önce hepsi bağ elektronlarına sahiptir!. Fakat tekli bağlarda (sigma elektronları) elektronların yönlendirilmesi bağıl olarak yüksek enerji gerektirir ve bu bağlar 185 nm dalgaboyunun altında olur ve bu bölgeye vakum ultraviyole denir. Bazı bantların belirlenmesinde özel cihazlara ihtiyaç vardır ve çoğu ticari cihazla bu yapılabilir. Daha uzun dalgaboylu UV-Vis ışığın absorplanması kromofor olarak bilinen sınırlı sayıda fonksiyonel gruplara bağlıdır.

Moleküler orbitaller, herbiri birer elektron içeren iki atomik orbitalin örtüşmesi sonucu oluşur. Normal olarak bir çift bağ elektronu en düşük enerjili moleküler orbitalde bulunur. Fakat bu elektronlar ışığın soğurulmasıyla daha yüksek enerjili antibağ orbitaline çıkar. Böyle bir geçiş moleküldeki tüm valans elektronları için mümkündür. Metanal gibi sigma-, pi- & bağ yapmamış elektronlar içeren bir molekül için şekilde görüldüğü gibi değişik elektron geçişi olasılığı vardır.

Sigma-sigma* ve n-sigma* geçişleri en yüksek enerjiyi, pi-pi* ve n-pi* geçişleri ise en düşük enerjiyi gerektirir.

Sigma-Sigma* Geçişleri
Çok yüksek enerji gerektirdiğinden normal spektrum gözlenmez. Doymuş alifatikler (sadece tek bağlı) gibi türleri analiz ederken çok yararlı olmaz. Bunun anlamı şudur; pentan gibi türler UV-Vis geçirgen solvent olarak kullanılabilir.

n-Sigma* Geçişleri
Su, Amonyak, H2S gibi substituentleri içeren doymuş bileşikler sadece sigma-sigma* ve n-sigma* geçişlerini gösterebilirler. İkinci geçiş düşük enerji gerektirmesine rağmen spektrumda çok nadir görülür.

n-Pi* & Pi-Pi* Geçişleri
Organik bileşiklerin çoğu uygulamaları bu tür geçişlerden birine dayanır. 2 veya çoklu bağlar içeren bu türler 200-700 nm. arasında potansiyel olarak soğurma yaparlar. İyi bir analiz için bandın olması yeterli değildir. İyi bir duyarlılık için büyük bir molar soğurum değeri de gereklidir. Bantların şiddetleri (ve molar soğurum katsayısının boyutu) geçişlerin oluşma olasılığına bağlıdır. Genel olarak n-pi* geçişleri pi-pi* geçişlerinden daha düşük şiddette bantlar vermektedir.

Tensor Serili FT-IR Spektrometresi

Tensor Serili FT-IR Spektrometresi
 
Tensor serisi spektrometreler kompak, sağlam, kalite güvence ve kontrol, araştırma ve akademik öğrenim laboratuarları için dizayn edilmiştir. Bruker' ın Intelli-SenseTM sistemi sayesinde her zaman kolay kullanılabilir ve güvenilirdir.

Temel sistem orta-infrared bölgede çalışabilecek şekilde tasarlanmıştır. Opsiyonel geniş bant KBr beamsplitter ile ölçüm aralığı 10,000 – 400 cm-1 e genişletilebilir.

Fabrikasyon ayarlı ve patentli ROCKSOLIDTM interferometre son derece karalıdır. Bütün yansıtma optikleri altın kaplı olup 30o lik açı oranına sahip beamsplitter ile yüksek hassasiyet ve hız elde edilir.

Tensor serisi spektrometreler numune haznesindeki Quick-Lock aksesuar tablası ile sisteme takılan aksesuarı otomatik olarak tanır ve doğru ölçüm parametrelerine otomatik olarak geçerek kullanıcı hatalarını minimuma indirir. Sistemlere opsiyonel olarak infrared mikroskop, TGA-IR veya GC-IR arabirimi, NIR fiber optic coupling module vb. eklenebilir.

Teknik Özellikler
Dizayn: Kompak, yalıtılmış ve kurutulmuş purge edilebilen optik bölüm. Optik elemanların kolay değiştirilebilmesi için dizayn edilmiş kapak.

Interferometre: Yüksek kararlılıkta ROCKSOLIDTM, sürtünmesiz hareketli mekanizmalar ve elektromanyetik hareket sistemi.

Elektronikler: Mikroprosesör kontrollü optik bölümü, dijital hız kontrolü, otomatik kazanç seçimi, dinamik hassasiyet değimine göre kazanç seçimi ve geliştirilmiş sistem kontrolü.

Sinyal-Gürültü Oranı: Minimum 6000:1 (5 saniyede, 4 cm-1, KBr beamsplitter ve oda sıcaklığında, DTGS detektör ile peak-to-peak). Ortalama 8000:1 den daha iyi (aynı koşullarda)

Tarama Hızı: 2.2 – 20 KHz lazer frekansı. (opsiyonel:2.2 – 40 KHz)

Dalgaboyu Doğruluğu: 2000 cm-1 de 0.01 cm-1 den daha iyi.

IR Kaynağı: Yüksek enerjili, hava soğutmalı MIR kaynak, kolay değiştirilebilir.

Numune Haznesi: Quick-Lock aksesuar tablası ile sisteme takılan aksesuarı otomatik ve hızlı bir şekilde tanır. Numune haznesine cihazın ön tarafından veya üst kısmından ulaşılabilir. Boyutları: 25 (genişlik) x 27 (derinlik) x 16 (yükseklik) cm.

    

Multi Purpose Analyzer (MPA)

Multi Purpose Analyzer (MPA)
 
Ürün Tanımı
NIR-spektroskopisi günümüz kalite kontrol / kalite güvence ihtiyaçlarının karşılanmasında en popüler ve güçlü teknolojilerden biridir. Son yıllarda, Fourier Transform yakın kızıl ötesi (FT-NIR) spektromelerinin kararlılık ve sağlamlıklarındaki gelişmeler endüstriye daha öncekilere göre daha hassas ve güvenilir analitik cihazlar sunmuştur. FT-NIR spektrometrelerinin numune örnekleme ve ölçüm tekniklerindeki çeşitlilik, uygulama alanında analizi yapan kişiye ve kullanıcılara daha fazla ve detaylı bilgi vermektedir.

Uzun yıllardır Bruker Optics en gelişmiş FT-NIR spektrometrelerini rutin analiz ihtiyaç ve yorumlarına göre düzenlemiştir. Bruker'a özel RockSolidTM teknolojisi, en yüksek hassasiyette güvenilir ölçümler, yüksek tarama hızı ve en yüksek spektral çözünürlük avantajlarını bir arada toplar. İhtiyaçlaranıza göre artırılabilen ölçüm metodları ile özgün ve özel tasarımlı MPA, FT-NIR spektrometre marketindeki en gelişmiş ve en esnek sistemdir. Sağlam ve önceden ayarlı optik düzenek, analiz verilerinin güvenilirliği ile birlikte metodların bir başka cihaza transferi avantajını getirir. Ethernet network kartı ile MPA, Bruker Opus yazılımına ve bilgisayarınıza kolayca bağlanır veya internet üzerinden dünyanın her hangibir yerinden de kullanılabilir.

Standard ölçüm haznesine sahip MPA spektrometresine, numunelerinizin gerektirdiği ihtiyaçlarınız doğrultusunda farklı ölçüm opsiyonları eklemek mümkündür. NIR teknolojisini kullanabileceğiniz hertürlü ölçüm metodu ve opsiyonları , MPA ile tek bir üründe sunulur:

· Sıcaklık kontrollü küvetlerde ölçümler için numune haznesi.
· İki fiber optik prop, (bir adet sıvı ve bir adet katı numuneler için).
· Bir kap içerisindeki toz veya geçirgen olmayan sıvı numuneler için "Integrating Sphere". Opsiyonel numune döndürücü mevcuttur.
· Transmisyon ünitesi. (tablet veya film ölçümü gibi uygulamalar için) Opsiyonel 30 haneli numune değiştiricisi mevcuttur.

MPA spektrometreleri, metod geliştirme ve metod optimizasyonu için bir çok seçenek, güç ve kolaylık sağlayan OPUS yazılımı paketi ile kontrol

edilir. Cihazın kolay kullanılabilirliği özelleştirilebilir (user customized) çalışma sayfaları, kısa yollar, kolay ölçüm modu ve sihirbazlar (wizards) ile garanti edilir. Bunlara ek olarak, OPUS/LAB programı tamamen kolay kullanılabilirlik üzerine geliştirilmiş, hiç bir tecrübesi olmayan kullanıcılara bile tüm ölçüm metodlarından yararlanma imkanını sağlar. Bruker Optics in Online PerformanceGuardTM özelliği, yazılım ve cihazın mekanik tüm ayrıntılarının bir arada doğru çalışmasını teyid eder, tüm optik parçalar ve otomasyon üniteleri sürekli olarak kontrol edilir ve her hangi bir arıza anında tespit edilir. OPUS modern kalite kontrol bölümünün tüm ihtiyaçlarını karşılayabilecek şekilde geliştirilmiştir, GMP/GLP ve 21 CFR Part 11 koşullarına uygun özellikleri taşır. Dahili validasyon unitesinin birleşimi ile kullanıcıya IQ/OQ/PQ desteği sağlar.

Ürün Uygulamaları
NIR spektroskopi C-H, N-H, O-H, S-H, C=O veya simetrik olmayan C=C grubu gibi kimyasal bağlara sahip bileşenlerin tanımlanması ve % 1 den daha yüksek konsantrasyonlarda miktar tayini yapılması için kullanılır. MPA bu ölçümleri katı, toz, hap, tablet ve kapsüllerde olduğu gibi sıvı, emulsiyon halindeki numunelerde de yapabilmektedir.

MPA Sistemi Temel Özellikleri
Donanım
· MPA Spektrometrenin genişletilebilirliği ve modülerliği ile kullanıcının uygulamalarının tam olarak karşılanması.
· RockSolid teknolojisi ile en dayanikli, hassasiyet gerektirmeyen ölçümler.
· Tak ve çalıştır (Plug & Play) şeklinde kolay kurulum.
· Ethernet bağlantısı ile hızlı veri transferi, İnternet üzerinden cihaza dünyanın istediğiniz yerinden ulaşabilme.
· Numune döndürme ve numune değiştirici ile otomasyon özelliği.
· Modüler dizayn, kolay bakım ve fabrikasyon ayarlı optik parçalar.
· Kısa optik yol; yüksek baseline kararlılığını garanti edilmesi.
· Optik ve elektronik parçaların birbirinden tamamen ayrılması. (Cihazın elektronik kısmına yapılacak bir servis optik parçalarda kirlenme, rutubetlenmeye veya bozulmaya sebep olmaz).
· Kurulu iki çıkışlı multiplexer; sıvı ve katı fiber optik problar aynı anda cihaza takılabilir.
· Küçük boyutları (D x E x Y: 40.0 x 58.9 x 26.2 cm) ile laboratuvarda daha az yer kaplaması.
· Sabit bir yerde kalma gerekliliği olmamasi, MPA spektrometresinin laptop bilgisayar ile mobil bir şekilde çalışabilmesi.

Yazılım ve Validasyon
· GMP ve GLP tam uygundur.
· 21 CFR part 11 ye tam uygundur.
· IQ/OQ/PQ tam destekler.
· Tüm aksesuarların yazılım kontrollü kullanımı.
· Niteliksel ve Niceliksel analiz yapma imkanı.
· OPUS güçlü yazılım paketi ile ihtiyacınıza yönelik programlar.
· OPUS/LAB ile kolay kullanılabilirlik.
· QUANT yazılımı ile otomatik olarak optimize edilmiş metod geliştirme.
· IDENT yazılımı ile hiyerarşik kütüphaneler.